每(mei)經訊，據啟信(xin)(xin)寶，北(bei)交所上(shang)市(shi)公(gong)司泓禧(xi)科(ke)技（871857）新增(zeng)專(zhuan)利(li)信(xin)(xin)息(xi)，專(zhuan)利(li)權人(ren)為泓禧(xi)科(ke)技，發明(ming)人(ren)是譚震、郭光華、余(yu)波、李小奇。專(zhuan)利(li)授(shou)權日為2022年11月22日，專(zhuan)利(li)名(ming)稱為“一種測試(shi)輔(fu)助治(zhi)具”，專(zhuan)利(li)類型(xing)為中國實(shi)用新型(xing)專(zhuan)利(li)，專(zhuan)利(li)申請(qing)號為CN202221514015.6。

該(gai)專利摘要顯示：本(ben)實(shi)用新型(xing)公開了一種測試輔助治具，包(bao)括底座(zuo)(zuo)，所(suo)(suo)(suo)述底座(zuo)(zuo)的(de)一端安(an)裝有(you)(you)豎(shu)直設置(zhi)的(de)立(li)板，所(suo)(suo)(suo)述立(li)板上(shang)安(an)裝有(you)(you)壓(ya)緊結構，所(suo)(suo)(suo)述底座(zuo)(zuo)上(shang)安(an)裝有(you)(you)兩個定位柱，所(suo)(suo)(suo)述定位柱用于與電路板上(shang)的(de)觸(chu)(chu)點部(bu)和(he)檢(jian)測接(jie)(jie)頭配合定位，所(suo)(suo)(suo)述壓(ya)緊結構的(de)壓(ya)緊部(bu)位于所(suo)(suo)(suo)述觸(chu)(chu)點部(bu)的(de)上(shang)方(fang)，并與所(suo)(suo)(suo)述觸(chu)(chu)點部(bu)對齊(qi)。本(ben)實(shi)用新型(xing)的(de)有(you)(you)益效果是，通(tong)過壓(ya)緊結構的(de)壓(ya)部(bu)從電路板的(de)觸(chu)(chu)點部(bu)上(shang)方(fang)將放置(zhi)在(zai)觸(chu)(chu)點部(bu)上(shang)的(de)檢(jian)測接(jie)(jie)頭向下(xia)壓(ya)，使檢(jian)測接(jie)(jie)頭在(zai)壓(ya)緊部(bu)的(de)作用下(xia)受(shou)力平衡，保證檢(jian)測接(jie)(jie)頭上(shang)的(de)每個觸(chu)(chu)點與電路板上(shang)的(de)觸(chu)(chu)點接(jie)(jie)觸(chu)(chu)導通(tong)，保證檢(jian)測質量。

(記者 曾健輝)

免責聲明：本文內容與數(shu)據僅供參考，不構成(cheng)投資建議，使用前核實。據此操(cao)作，風(feng)險自(zi)擔。